Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle Bau·München··TED
Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P
Wafer Prober (IMS-04)
Angebotsfrist:05. März 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung
Wafer Prober (IMS-04)
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Wafer Prober (IMS-04)
Wafer Prober (IMS-04)
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
1 pc. Wafer Probe Station
PVD-Sputter-Cluster (IMS-01)
Beschaffung von zwei Systemkomponenten: Los 1 (IMS-06.1) umfasst eine XYZ-Phi-Stage für Wafer bis 12 Zoll. Los 2 (IMS-06.2) umfasst 6-Achsen-Hexapoden inklusive der zugehörigen Controller.
Mixed signal RF test system (IMS-08.1)
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