Beschaffung einer automatisierten Messstation für Materialtests an Chips, Wafern und Probenträgern. Die Station muss für mmWave- und Sub-THz-Frequenzsonden geeignet sein, mindestens vier Frequenzverstärker für echte differentielle 2-Port-Charakterisierung ohne Umklemmen tragen können. Erforderlich sind ein Mikroskopsys...
Typ:Ausschreibung
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Beschaffung einer automatisierten Messstation für Materialtests an Chips, Wafern und Probenträgern. Die Station muss für mmWave- und Sub-THz-Frequenzsonden geeignet sein, mindestens vier Frequenzverstärker für echte differentielle 2-Port-Charakterisierung ohne Umklemmen tragen können. Erforderlich sind ein Mikroskopsystem, eine Kamera,...
Beschaffung einer automatisierten Messstation für Materialtests an Chips, Wafern und Probenträgern. Die Station muss für mmWave- und Sub-THz-Frequenzsonden geeignet sein, mindestens vier Frequenzverstärker für echte differentielle 2-Port-Charakterisierung ohne Umklemmen tragen können. Erforderlich sind ein Mikroskopsystem, eine Kamera, ein Wafer-Prober-Chuck mit Rotation und Z-Bewegung sowie ein thermisches Chuck-System (-40°C bis 200°C). Automatische Prozesssteuerung und Benutzersoftware sind notwendig.
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
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