Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12··TED
Burn in test system (ENAS-11.1) - PR961025-3340-P
1 pc. Burn in test system
Typ:Ausschreibung
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Erhalten Sie alle Dokumente zu "Burn in test system (ENAS-11.1) - PR961025-3340-P" von Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 und behalten Sie Fristen und Einreichungshinweise im Blick.
1 pc. Burn in test system
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Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
Burn In Test System (ENAS-11.1)
1 pc. Mixed signal RF test system
1 pc. Curve Tracer
1 pc. Wafer Probe Station
1 Stück Upgrade automatisches Waferhandlingsystem
1 pc. High-Resolution screen and stencil printer
1 pc. Wafer Bonder for oxidfree bonding process
Analytic-Test-System (IPMS-MRS11.3)
iLineStepper (ENAS-02.1)
Mixed signal RF test system (IMS-08.1)