Analytic-Test-System (IPMS-MRS11.3)
Angebotsfrist:05. März 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung
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Analytic-Test-System (IPMS-MRS11.3)
Analytic-Test-System (IPMS-MRS11.3)
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Beschaffung eines automatisierten Analytic-Probers für elektro-optische Tests von MEMS- und OLED-Wafern sowie Bare Dies (Chiplets) in einer Reinraumumgebung (ISO 14644-1 Klasse 4). Das System erfordert freien Raum für optische Messgeräte. Optionale Anforderungen: ESD-Schutz, austauschbare Chuck-Oberflächen, automatische Chuck-Entladung, alternative X-Y-Theta-Ausrichtung, automatische Sondenmarkierungsprüfung, Handling von 200mm/300mm Wafern (inkl. Notch, FOSB/FOUP) und Dicken von 400µm bis 2000µm.
ALD System (Dielectric) (IPMS-CNT06.1)
Waferstepper & coating line (IPMS-MRS16.1.1 + IPMS-MRS16.1.2)
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