300 mm Photonics Prober station and Optical test and measurement system
Angebotsfrist:30. April 2026
Typ:Ausschreibung
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300 mm Photonics Prober station and Optical test and measurement system
300 mm Photonics Prober station and Optical test and measurement system
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Beschaffung einer halbautomatischen 200mm-Wafer-Probestation zur Charakterisierung von Graphen-basierten photonischen Bauteilen. Die Plattform muss für bis zu 300mm-Wafer geeignet sein und Messungen von IL, ER, PDL, PMD, S-Parametern sowie eine elektro-optische Bandbreite von 67 GHz für passive und aktive Bauteile unterstützen. Los 1: 300mm-Wafer-Probersystem. Los 2: Optisches Test- und Messsystem. Angebote erfordern eine technische Beschreibung, Funktionsprinzip und Handbuch.
The nanoindentation system shall support the investigation of ion radiation induced damage and other degradation in metals, ceramics, claddings, protective coatings and thin films. The system shall enable high resolution nanoindentation using both quasi static and dynamic measurement techniques, in-situ scanning probe microscopy, and high-speed mechanical property mapping (i.e., mechanical microscopy), thereby allowing precise probing of damage gradients and other microstructural features.
This tender relates to a Contract for the delivery of a Cryogenic Probe Station. The procurement is conducted as a reversed tender. A maximum budget of DKK 2,000,000. applies. Tenders exceeding this amount will be rejected as non-compliant. The purpose of the tender is to procure a cryogenic probe system capable of testing custom-designed semiconductor chips at millikelvin and cryogenic temperatures for interfacing with quantum computing hardware. On this basis, the purpose of the Contract is to
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