300 mm Photonics Prober station and Optical test and measurement system
Beschaffung einer halbautomatischen 200mm-Wafer-Probestation zur Charakterisierung von Graphen-basierten photonischen Bauteilen. Die Plattform muss für bis zu 300mm-Wafer geeignet sein und Messungen von IL, ER, PDL, PMD, S-Parametern sowie eine elektro-optische Bandbreite von 67 GHz für passive und aktive Bauteile unte...
Angebotsfrist:02. Mai 2026
Typ:Ausschreibung