XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Angebotsfrist:29. März 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung
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Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Beschaffung eines NanoSpace UHV FIB-SEM (Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscope) inklusive Zubehör für das Ernst Ruska-Centre (ER-C). Der Auftrag umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme des hochauflösenden Systems für den Ultrahochvakuumbereich.
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