XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Angebotsfrist:30. April 2026
Typ:Ausschreibung
Nächster Schritt
Erhalten Sie alle Dokumente zu "W10-42390699 XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1." von Forschungszentrum Jülich GmbH -Team Bau- und behalten Sie Fristen und Einreichungshinweise im Blick.
Ohne Kreditkarte · Sofortiger Zugang
XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Beschaffung eines NanoSpace UHV FIB-SEM (Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscope) inklusive Zubehör für das Ernst Ruska-Centre (ER-C). Der Auftrag umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme des hochauflösenden Systems für den Ultrahochvakuumbereich.
In weniger als 60 Sekunden erhalten Sie Vollzugang für W10-42390699 XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1..
Ohne Kreditkarte nutzbar
Sofort Zugriff auf Unterlagen und KI-Hinweise
Fristen und Folgeausschreibungen automatisch beobachten