Spectroscopic imaging ellipsometer (ES) with atomic force microscope (AFM)
Das Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf beschafft ein spektroskopisches Imaging-Ellipsometer (ES) mit integriertem Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Untersuchung optischer, magnetischer und struktureller Eigenschaften nanostrukturierter Materialien. Spektralbereich: 190–1700 nm (erweiterbar auf 2700 nm). Anforderungen: l...
Angebotsfrist:30. April 2026
Typ:Ausschreibung