Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Rasterelektronenmikroskop zur Untersuchung von Werkstoffen und Materialien. Das Gerät muss die in Anlage 2 definierten Mindestanforderungen erfüllen. Angebote für umfangreich modernisierte Gebrauchtgeräte, die direkt von einem Refurbishing-Unternehmen stammen, sind ...
Typ:Ausschreibung
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Rasterelektronenmikroskop zur Untersuchung von Werkstoffen und Materialien. Das Gerät muss die in Anlage 2 definierten Mindestanforderungen erfüllen. Angebote für umfangreich modernisierte Gebrauchtgeräte, die direkt von einem Refurbishing-Unternehmen stammen, sind ausdrücklich erwü...
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Rasterelektronenmikroskop zur Untersuchung von Werkstoffen und Materialien. Das Gerät muss die in Anlage 2 definierten Mindestanforderungen erfüllen. Angebote für umfangreich modernisierte Gebrauchtgeräte, die direkt von einem Refurbishing-Unternehmen stammen, sind ausdrücklich erwünscht.
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Einkristall-Röntgendiffraktometer (Dual-Source) inklusive Tieftemperaturanlage für wissenschaftliche Zwecke. Die technischen Leistungsparameter gemäß Anlage 2 der Ausschreibung sind zwingend zu erfüllen.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Vapour-HF-Ätzsystem zur Freistellung hochempfindlicher photonischer Kristalle. Diese sind an Siliziumfäden mit definierter Federkonstante aufgehängt und ermöglichen nahezu 100 % Reflexion. Die Technologie dient der Entwicklung optomechanischer Systeme für das Einstein Telescope (ET). Die technischen Leistungsparameter gemäß Anlage 2 sind zwingend zu erfüllen.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für Ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Extrudersystems für kleinskalige Polymerprozessierungen welches die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 mindestens erfüllen muss.
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