Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes
Beschaffung eines Raster-Kraft-Mikroskops mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (s-SNOM) durch die Friedrich-Schiller-Universität Jena. Das Gerät soll die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen unter Anregung mit kohärenter Laserstrahlung (sichtbar bis infraro...
Typ:Ausschreibung