Johannes Gutenberg-Universität Mainz·Mainz·
Feldemissions (Raster)-Transmissionselektronenmikroskop (S)TEM
Feldemissions (Raster)-Transmissionselektronenmikroskop (S)TEM wie gemäß Leistungsverzeichnis
Angebotsfrist:05. Mai 2026
Typ:Ausschreibung
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Angebotsfrist:05. Mai 2026
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Feldemissions (Raster)-Transmissionselektronenmikroskop (S)TEM wie gemäß Leistungsverzeichnis
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Feldemissions (Raster)-Transmissionselektronenmikroskop (S)TEM wie gemäß Leistungsverzeichnis
Beschaffung eines Feldemissions-(Raster)-Transmissionselektronenmikroskops (S)TEM gemäß den detaillierten Anforderungen im Leistungsverzeichnis.
Das Fraunhofer IKTS beschafft ein (Raster-)Transmissionselektronenmikroskop ((S)TEM) mit 300 kV Beschleunigungsspannung. Ziel ist die Analyse von Widebandgap-Halbleitern (SiC, GaN, GaAs) zur Bestimmung der Defektdichte sowie die Stärkung der Expertise in Materialwissenschaften und Nanotechnologie im Rahmen des Projekts SAXCRYSTALPOWER (EFRE InfraProNET-Förderung). Das Gerät dient der multiskaligen Charakterisierung und Entwicklung von in-situ-Methoden.
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