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Elektronenstrahllithographie- und Nanodraht-Charakterisierungs-System
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Elektronenstrahllithographie- und Nanodraht-Charakterisierungs-System eLINE Plus
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Beschaffung eines Elektronenstrahllithographie- und Nanodraht-Charakterisierungs-Systems vom Typ eLINE Plus. Das System dient der hochpräzisen Nanostrukturierung und Analyse. Es umfasst die notwendige Hardware, Software sowie die Installation und Inbetriebnahme am Einsatzort.
Park AFM System zur magnetischen Charakterisierung von katalyserelevanten Oberflächendefekten
EPFL sucht ein aktives Load-Pull-Messsystem im Sub-THz-Bereich (75–260 GHz) für Hochleistungsmessungen, plus Low-Power-Extender (220–330+ GHz) für VNA/VMU. System dient der Charakterisierung von HF-Halbleiterbauelementen (MMICs) für Spitzenforschung an Leistungsbauelementen im Millimeterwellen-/Sub-THz-Bereich, insbesondere für Hochfrequenz-/Hochleistungsbauelemente in Kommunikationsanwendungen der nächsten Generation. Beschaffung umfasst 3 Lose.
Der Halbleiter-Parameteranalysator soll dazu dienen nano- und quantenelektronische Testbauelemente wie bspw. Halbleiter-Nanodraht-Transistoren zu charakterisieren. Dazu werden nanostrukturierte Halbleiter-Teststrukturen in einem speziellen Elektronenstrahllithographie-System in-situ mit Hilfe von Nanomanipulatoren kontaktiert und ihre elektrischen Eigenschaften charakterisiert. Dafür wird ein Parameteranalysator benötigt, der Strom-Spannungs-Messungen (bspw. Source-Drain-Strom vs. Source-Drain-S
EPFL sucht aktives Load-Pull-Messsystem im Sub-THz-Bereich (75–260 GHz) mit Frequenzextendern für VNA/VMU zur Charakterisierung von HF-Halbleiterbauelementen. System umfasst Hochleistungsmodule für Load-Pull-Messungen sowie Low-Power-Extender (220–330+ GHz) für Keysight PNA. Ausrüstung dient Spitzenforschung an Leistungsbauelementen im Millimeterwellen-/Sub-THz-Bereich und MMICs am POWERlab des Instituts für Elektrotechnik und Mikrotechnik (IEM). Fokus auf HF- und Hochleistungsbauelemente für Kommunikationsanwendungen der nächsten Generation. Vergabe in 3 Losen.
Beschafft wurde einMiSeq i100 Plus System MiSeq i100 Plus System
Beschaffung eines motorisierten Positioniersystems für Prüfobjekt und zwei Detektoren für ein neues modulares µCT-System im Porous Media Lab (PML) der Universität Stuttgart. Das System wird im Rahmen eines DFG-Großgeräteantrags angeschafft und dient der Charakterisierung poröser Materialien und Materialien mit Mikrostruktur.
Ausschreibung Wartungsleistungen, Notrufsysteme und Bereitschaftsdienste für Aufzugsanlagen in Objekten der AOK PLUS
Beschaffung eines Mixed-Signal-Halbleitertestsystems für das Fraunhofer EMFT zur Post-Silicon-Verifizierung, Charakterisierung und Funktionsprüfung von integrierten Schaltkreisen und Chiplets. Das System muss Schnittstellen für industrielle Wafer-Prober und Device-Handler bieten. Hardware- und Software-Kompatibilität zum bestehenden Advantest V93000-System der Fraunhofer-Gesellschaft ist zwingend erforderlich.
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. beschafft ein leistungsstarkes Raman-Mikroskopiesystem für die in-vitro-Zell-Diagnostik. Das System ermöglicht orts- und zeitaufgelöste Raman-Spektroskopie an Zellen (z.B. Blutzellen, Bakterien) zur Charakterisierung von Zelltypen und physiologischen Zuständen. Es muss für S2-Bedingungen geeignet, kompakt für klinische Studien und für stabilen Dauerbetrieb ausgelegt sein, um reproduzierbare Daten bei Wirkstoff-Interaktionen zu liefern.