hochauflösende TEM-Untersuchungen von Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren
Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
Angebotsfrist:21. Mai 2026
Typ:Ausschreibung
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Inhalt auf einen Blick
Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
- Ausschreibungstyp: Ausschreibung
- Auftraggeber: Fraunhofer ENAS
- Veröffentlicht: 05. Mai 2026
- Frist: 21. Mai 2026
Ausschreibungsbeschreibung
Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
Weiterführende Details
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Dokumente und Anhänge
2 Dateien erfasst- Bekanntmachung
- 25321768
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- Die Angebotsfrist endet am 21. Mai 2026.
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- Der Auftraggeber ist Fraunhofer ENAS.
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