In combinatie met meetinstrumenten worden de halfautomatische probers gebruikt voor het parametrisch testen van afzonderlijke geïntegreerde schakelingen op wafer- of sample-niveau. Het apparaat moet ten minste geschikt zijn voor het testen van micrometerdunne (enkele honderden) tot millimeterdikke samples of wafers met...
Angebotsfrist:05. März 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung
Nächster Schritt
Erhalten Sie alle Dokumente zu "Semi-Automatic Wafer Probers" von Imec EU Pilot line NV und behalten Sie Fristen und Einreichungshinweise im Blick.
Ohne Kreditkarte · Sofortiger Zugang
In combinatie met meetinstrumenten worden de halfautomatische probers gebruikt voor het parametrisch testen van afzonderlijke geïntegreerde schakelingen op wafer- of sample-niveau. Het apparaat moet ten minste geschikt zijn voor het testen van micrometerdunne (enkele honderden) tot millimeterdikke samples of wafers met een diameter van...
In combinatie met meetinstrumenten worden de halfautomatische probers gebruikt voor het parametrisch testen van afzonderlijke geïntegreerde schakelingen op wafer- of sample-niveau. Het apparaat moet ten minste geschikt zijn voor het testen van micrometerdunne (enkele honderden) tot millimeterdikke samples of wafers met een diameter van 200 mm en 300 mm.
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
Aktuell sind keine direkten Alternativen gelistet. Aktivieren Sie die Suche, um neue passende Bekanntmachungen automatisch zu erhalten.
Erweiterte Suche freischaltenIn weniger als 60 Sekunden erhalten Sie Vollzugang für Semi-Automatic Wafer Probers.
Ohne Kreditkarte nutzbar
Sofort Zugriff auf Unterlagen und KI-Hinweise
Fristen und Folgeausschreibungen automatisch beobachten