Semi-automated probe system with accessories
Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines neuen integrierten Systems zur optischen und opto-elektrischen Charakterisierung auf Wafer- und Chip-Ebene im sichtbaren Spektralbereich. Das System umfasst eine semi-automatisierte 200 mm Messsonde mit temperaturgeregeltem Tisch, hochauflösendem Mikroskop und manuellen ...
Angebotsfrist:24. März 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung