Kauf eines Desktop-Rasterelektronenmikroskops (REM) mit elektrischer Kontaktierungsfunktion für Proben und Möglichkeit zur Analyse der Materialstöchometrie während der elektrischen Charakterisierung.
Angebotsfrist:04. März 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung
Nächster Schritt
Erhalten Sie alle Dokumente zu "Rasterelektronenmikroskop mit elektrischer Messfunktion" von Fraunhofer ENAS und behalten Sie Fristen und Einreichungshinweise im Blick.
Ohne Kreditkarte · Sofortiger Zugang
Kauf eines Desktop-Rasterelektronenmikroskops (REM) mit elektrischer Kontaktierungsfunktion für Proben und Möglichkeit zur Analyse der Materialstöchometrie während der elektrischen Charakterisierung.
Kauf eines Desktop-Rasterelektronenmikroskops (REM) mit elektrischer Kontaktierungsfunktion für Proben und Möglichkeit zur Analyse der Materialstöchometrie während der elektrischen Charakterisierung.
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) inklusive EDXS-Analysesystem. Der Leistungsumfang umfasst neben der Lieferung auch die fachgerechte Installation, Inbetriebnahme sowie die Bereitstellung von Wartungsleistungen und technischem Support.
Beschaffung eines Table-Top-Rasterelektronenmikroskops (REM) für das Institut für Materialwissenschaft der TU Darmstadt. Das REM dient der Studierendenwerbung, Outreach für Schüler ab der E-Stufe, sowie der Unterstützung von Bachelor-/Masterarbeiten und wissenschaftlicher Arbeit. Anforderungen: kompakte, anwenderfreundliche Lösung für Bildgebung und Elementaranalyse von Materialoberflächen und Mikrostrukturen, geeignet für niederschwelligen Einstieg in die Elektronenmikroskopie.
Beschaffung, Lieferung und Modernisierung von Analyse- und Präparationsgeräten für metallurgische Prozesse am Access e.V. in 6 Losen: 1. Modernisierung bestehender Rasterelektronenmikroskope (REM), 2. Desktop-REM für automatisierte Defektanalytik, 3. mechanische Präparationssysteme, 4. ionenstrahlgestützte Präparationssysteme, 5. integriertes System zur automatisierten Präparation/Analyse, 6. ergänzende Komponenten. Ziel ist die Modernisierung der Infrastruktur für Werkstoff- und Prozessentwicklung.
In weniger als 60 Sekunden erhalten Sie Vollzugang für Rasterelektronenmikroskop mit elektrischer Messfunktion.
Ohne Kreditkarte nutzbar
Sofort Zugriff auf Unterlagen und KI-Hinweise
Fristen und Folgeausschreibungen automatisch beobachten