Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (s-SNOM). Ziel ist die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen mittels kohärenter Laserstrahlung (sichtbar bis infrarot). Erforderlich sind eine l...
Angebotsfrist:30. April 2026
Typ:Ausschreibung