Nahfeld-Rasteroptikmikroskop-Plattform
Gegenstand der Ausschreibung ist die die Lieferung, Installation, Schulung und Inbetriebnahme einer CE-zertifizierten Nahfeld-Rasteroptikmikroskop-Plattform (sSNOM) für die hochauflösende Feldkartierung mit einer räumlichen Auflösung von <10 nm.
Angebotsfrist:13. Januar 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung