Beschaffung eines neuen Rasterelektronenmikroskops inklusive Lieferung, Installation und Einweisung für das Leibniz IOM. Das Gerät dient der Untersuchung vielfältiger Proben, von porösen Polymermembranen über beschichtete Glas- und Keramikproben bis hin zu nanostrukturierten Metall- und Halbleiteroberflächen. Anforderu...
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Beschaffung eines neuen Rasterelektronenmikroskops inklusive Lieferung, Installation und Einweisung für das Leibniz IOM. Das Gerät dient der Untersuchung vielfältiger Proben, von porösen Polymermembranen über beschichtete Glas- und Keramikproben bis hin zu nanostrukturierten Metall- und Halbleiteroberflächen. Anforderungen sind hohe Benutzerfreundlichkeit, ein hohes Maß an Automatisierung sowie die Unterstützung von KI-Methoden zur Analyse.
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