Beschaffung eines Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FEG-SEM), ausgestattet mit energiedispersiver Röntgenanalytik (EDX) sowie Elektronenrückstreubeugung (EBSD) zur hochauflösenden Materialanalyse.
Angebotsfrist:12. März 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung
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Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
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Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl (FIB). Das Gerät muss für Raumtemperatur- und Kryo-Anwendungen (biologisches Gewebe, Batteriematerialien) geeignet sein und einen Transfer unter Inertgas/Vakuum ermöglichen. Hauptaufgaben: Herstellung von TEM-Lamellen und zylinderförmigen Synchrotron-Proben, 3D-FIB-Tomographie, Oberflächenanalyse und Prototyping. Ergänzend erforderlich: Fluoreszenz-Lichtmikroskopie und energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX).
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