Backfilling-Nah-Atmosphärendruck-Röntgenphotoelektronen-spektrometer (NAP-XPS)
Angebotsfrist:30. April 2026
Typ:Ausschreibung
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Backfilling-Nah-Atmosphärendruck-Röntgenphotoelektronen-spektrometer (NAP-XPS)
Backfilling-Nah-Atmosphärendruck-Röntgenphotoelektronen-spektrometer (NAP-XPS)
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Beschaffung eines Backfilling-Nah-Atmosphärendruck-Röntgenphotoelektronen-Spektrometers (NAP-XPS). Das System dient der oberflächenanalytischen Untersuchung von Proben unter kontrollierten Atmosphärenbedingungen. Der Lieferumfang umfasst die Spektrometer-Einheit, die Vakuumsysteme, die Probenmanipulation sowie die notwendige Steuerungs- und Auswertesoftware inklusive Installation und Inbetriebnahme.
In der vorliegenden Submission schreibt der Kanton Zürich, vertreten durch das Hochbauamt, für das Institute of Materials and Process Engineering (IMPE) der ZHAW School of Engineering (ZHAW) ein Röntgenphotoelektronen-Spektrometer (XPS-Anlage) als Lieferauftrag aus. Eine detaillierte Leistungsbeschreibung ist im beiliegenden Pflichtenheft enthalten.
In der vorliegenden Submission schreibt der Kanton Zürich, vertreten durch das Hochbauamt, für das Institute of Materials and Process Engineering (IMPE) der ZHAW School of Engineering (ZHAW) ein Röntgenphotoelektronen-Spektrometer (XPS-Anlage) als Lieferauftrag aus. Eine detaillierte Leistungsbeschreibung ist im beiliegenden Pflichtenheft enthalten.
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