Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine abstimmbare Laserlichtquelle zur hochaufgelösten Vermessung des Transmissions- und Streuverhaltens passiver integriert-optischer Schaltkreise (z. B. Mikroringresonatoren mit hohen Gütezahlen) über einen breiten Wellenlängenbereich. Die technischen Leistungsparamete...
Angebotsfrist:06. März 2026(abgelaufen)
Typ:Ausschreibung
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine abstimmbare Laserlichtquelle zur hochaufgelösten Vermessung des Transmissions- und Streuverhaltens passiver integriert-optischer Schaltkreise (z. B. Mikroringresonatoren mit hohen Gütezahlen) über einen breiten Wellenlängenbereich. Die technischen Leistungsparameter gemäß Anlage 2 ...
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft eine abstimmbare Laserlichtquelle zur hochaufgelösten Vermessung des Transmissions- und Streuverhaltens passiver integriert-optischer Schaltkreise (z. B. Mikroringresonatoren mit hohen Gütezahlen) über einen breiten Wellenlängenbereich. Die technischen Leistungsparameter gemäß Anlage 2 sind zwingend einzuhalten.
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für Ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf einer abstimmbaren Laserlichtquelle, um das Transmissions- und Streuverhalten passiver integriert-optischer Schaltkreise, wie etwa Mikroringresonatoren mit hohen Gütezahlen, hochaufgelöst und über einen breiten Wellenlängenbereich vermessen zu können. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein hochauflösendes Spektrometer zur Vermessung von Transmissionsspektren passiver integriert-optischer Schaltkreise (z. B. Mikroringresonatoren mit hohen Gütezahlen). Zudem sollen Seitenbänder von elektro-optisch erzeugten Frequenzkämmen untersucht werden. Detaillierte technische Anforderungen sind der Anlage 2 zu entnehmen.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Spektrometer beschaffen, um das Transmissionsspektrum passiver integriert-optischer Schaltkreise, wie etwa Mikroringresonatoren mit hohen Gütezahlen, hochaufgelöst vermessen zu können. Außerdem sollen die Seitenbanden von elektro-optisch-erzeugten Frequenzkämmen untersucht werden. Aus diesen technischen Randbedingungen ergeben sich die folgenden Anforderungen: siehe Anlage 2
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