Microscope with Atomic Force Microscopy
Beschaffung eines modularen konfokalen Raman-Mikroskopie-Systems (CRM) mit integrierter Rasterkraftmikroskopie (AFM). Das System dient der In-situ-Charakterisierung von Materialien unter kontrollierten Bedingungen (Temperatur, Luftfeuchtigkeit, CO2-Konzentration, Unterwasser). Anforderungen: 532 nm/785 nm Anregung, dua...
Submission deadline:March 05, 2026(expired)
Type:Tender